将照片或视频转化为色彩鲜明的3D模型
步骤1:采集并上传
将任意设备拍摄的照片或视频上传到Artec Studio。
步骤2:对齐图像
采用独特算法自动对齐摄像角度并识别精细特征。
步骤3:创建您的3D模型
构建一个特征丰富的模型,可进行精细调整,也可直接应用。
支持任何设备上传照片、视频
智能手机
任何智能手机拍摄的照片或视频均可用来创建模型。
数码相机
将数码相机拍摄的影像转换为高分辨率3D模型。
显微摄影
使用显微镜采集微型物体的精细细节。
无人机影像
通过无人机航拍捕捉整个景观,生成3D模型。
为物体制作逼真3D模型
透明物体
为难以捕捉的透明玻璃体制作3D模型。
反光外表
为外表反光的物体轻松完成数字化,从镜子到车身一网打尽。
无特征表面
平面表面构建效率高于同业竞品。
复杂几何
深入小缝隙,捕捉隐藏或复杂的细节。
完整景观快速数字化 (测试版)
采集范围更广
Artec Photogrammetry不仅适用于中小型物体的3D建模,还可重建整个场景,可用于犯罪现场分析、城市规划、考古等领域。
高分辨率地形测绘
将无人机影像导入Artec Studio Photogrammetry算法模型,可高精度搜索大面积遗址,也可随时间监测环境变化。
进入偏远区域
从偏远地区到战争区域,无人机为了解恶劣环境提供了前所未有的接近方式,无论是探索发现还是战术研究。
轻松捕捉任何地点,适用于任何规模
可测量3D模型的比例尺
AI Photogrammetry联手3D扫描技术
合并不同类型的网格
现在可以集各家所长,将由照片或视频生成的网格与3D扫描生成的网格合并使用。
重建整个场景
通过摄影测量技术为庞大的设施和广阔的环境快速实现数字化,借助亚毫米级精度的3D扫描技术捕捉关键细节,实现高精度要求。
为无色3D扫描添加纹理
将尤为逼真的摄影测量纹理应用于Artec Point 3D扫描,以制作精度出色又栩栩如生的模型。
始终先人一步
高质量3D模型,随时满足行业需求。
解锁Artec Studio 19更多潜力
选择一款合适的套餐
Artec Studio对比
版本 | 19 | 18 | 17 |
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快速强劲的3D处理 | |||
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多扫描仪处理 | ^ | ^ | |
多扫描仪智能融合 | 精细调整扫描仪特定数据 | ^ | |
多扫描仪整体配准 | ^ | ^ | |
融合:速度 | 相比AS16提速10%,RAM占用减少30% | 相比AS16提速10%,RAM占用减少30% | 相比AS16提速10%,RAM占用减少30% |
融合:排除错误帧 | ^ | ^ | ^ |
整体配准 | 新功能:薄物体 | 提速一倍 | ^ |
一步网格优化 | 提速10倍 | ^ | |
扫描抽取 | ^ | ^ | |
自动模式 | 包括Micro II | ^ | ^ |
X光模式 | ^ | ^ | ^ |
AI 기반 HD 모드 | |||
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Leo 및 Eva를 위한 HD 모드 | ^ | 4배 더 빠름 | ^ |
포인트 밀도 및 프레임 주파수 선택 | 자동 또는 수동 | 자동 또는 수동 | 수동 |
간단한 HD 사전 설정 | ^ | ^ | |
다양한 설정으로 다중 HD 재구성 | ^ | ^ | ^ |
GPU 기반 설정 최적화 프로그램 | ^ | ^ | ^ |
AI摄影测量 | |||
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在Artec Studio中使用Artec 3D扫描仪、照片和视频数据创建逼真的3D模型。 | ^ |
高级CGI工具,打造3D模型完美色彩 | |||
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适合Leo的AI色彩对比增强 | ^ | ^ | |
提升纹理品质 | ^ | ^ | |
针对Leo优化色彩捕获模式 | ^ | ^ | |
场景光源优化 | ^ | ^ | |
自动反光移除 | ^ | ^ | ^ |
模型到模型的纹理转移 | ^ | ^ | ^ |
相片纹理 | Ray II支持照片纹理功能 | 含相片查看模式 | 含相片查看模式 |
纹理修复刷 | ^ | ^ | ^ |
网格简化刷 | 提升 | ^ |
智能自动化 | |||
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自动模式 | ^ | ^ | ^ |
自动对齐 | ^ | ^ | ^ |
扫描尺寸优化 | ^ | ^ | ^ |
智能基底移除 | ^ | ^ | ^ |
优化自动处理模式 | ^ | ^ |
轻松3D扫描 | |||
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自动亮度调节 | ^ | ^ | ^ |
适合扫描黑色、反光、精密物体的自动灵敏度设置 | ^ | ^ | ^ |
多台埃太科三维扫描仪协同建模 | ^ | ^ | ^ |
纹理与几何扫描 | ^ | ^ | ^ |
质量检测 | |||
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Artec Studio PtB认证 | ^ | ^ | |
网格至CAD对比 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 | 导入SAT, STEP, IGES, X_T文件 | 导入STEP, IGES, X_T文件 |
网格对齐至CAD | 自动 | 自动 | 手动 |
数据对齐 | ^ | ^ | ^ |
2D截面分析 | ^ | ^ | |
自动缺陷检测 | ^ | ^ | |
偏差映射图 | 高级距离计算 | 高级距离计算 | 基本距离计算 |
厚度映射图 | ^ | ^ | |
公差检查模式 | ^ | ^ | |
标记点支持优化 | ^ | ^ | ^ |
目标厚度补偿 | ^ | ^ | |
表面距离图:一键注解 | ^ | ^ | ^ |
表面距离图:逐点偏差 | ^ | ^ | ^ |
测量:直线型、大地线型、剖面、距离图、体积、注解。导出至CSV、DXF、XML | ^ | ^ | ^ |
直接导出至Control X | ^ | ^ | ^ |
Artec Studio下运行Control X质检 | ^ | ^ | ^ |
Artec Studio下运行Control X批量质检 | ^ | ^ | ^ |
用于逆向工程的扫描至CAD | |||
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拟合CAD图元至3D模型 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形 |
创建自由图元 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 | 圆柱、球体、圆锥、平面、环形、盒子 |
自动曲面 | ^ | 自动曲面 | ^ |
自由曲面拟合 | ^ | ^ | ^ |
布尔运算 | ^ | ^ | ^ |
几何约束 | ^ | ^ | ^ |
精准定位 | ^ | ^ | ^ |
直接导出多份开放和闭合轮廓至CAD | ^ | ^ | ^ |
制作拔模角 | ^ | ^ | |
倒角和倒圆角工具 | ^ | ^ | |
即时偏差分析 | ^ | ^ | |
移动和偏置面 | ^ | ^ | |
表面加厚工具 | ^ | ^ | |
直接将拟合图元和网格导出至SOLIDWORKS | ^ | ^ | 仅支持拟合图元 |
直接导出至Design X | ^ | ^ | ^ |
拆解组件 | ^ | ||
删除面 | ^ |
用户界面与人体工学 | |||
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主屏幕项目管理器 | ^ | ^ | |
快速面板 | ^ | ^ | |
深度属性选项卡 | 高级 | 高级 | 基本 |
手动选择帧 | ^ | ^ | |
多对象导出 | ^ | ^ | ^ |
自定义工作区 | ^ | ^ | ^ |
Artec Studio 19参数规格
导入格式 | |
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Artec 3D格式 | ^ |
CAD格式 | SAT, STEP, IGES, X_T |
导出格式 | |
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网格 | OBJ, PLY, WRL, STL, AOP, ASC, USD, Disney PTEX, E57, XYZRGB, USDZ |
点云(仅适用于Artec Ray & Ray II) | PTX, BTX, XYZ |
参照标记点 | OBC |
测量值 | CSV, DXF, XML |
CAD | STEP, IGES, X_T |
硬件支持 | |
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兼容Artec Studio 19的3D扫描仪 | Artec Eva、Eva Lite、Leo、Metrology Kit、Micro II、Point、Ray II、Spider II,以及已停产的型号:Micro、Ray、Spider、Space Spider、Medit D700、MH 和 MHT 系列的AG、AC、W2和T2。 |
如需了解停产扫描仪兼容性的详细信息,请联系 support@artec3d.com。 |
系统要求 | |
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支持的操作系统 | Windows 10 x64、Windows 11 |
推荐计算机配置 | 第13或第14代Intel Core i7或i9处理器,RTX 4070显卡(8 GB) |
计算机最低要求 | 第12代Intel Core i9处理器,RTX 4060显卡(8 GB) |
详细的硬件要求可以在Artec支持中心找到。